快速溫度變化試驗箱降溫時(shí)間時(shí)間定制適用于電子、電器、電池、塑料、食品、紙制品、車(chē)輛、金屬、化工、建材、科研院所，等單位。

產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時(shí)的適應性試驗，以及溫度漸變試驗還可以對電子元器件進(jìn)行應力篩選試驗。

快速溫度變化試驗箱降溫時(shí)間時(shí)間定制滿(mǎn)足標準：

1、GB10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度變化)

2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-1:2007) 試驗 A:低溫試驗方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-1: 2007)試驗B:高溫試驗方法

4、GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-78:2001) 試驗Cab:恒定試驗方法

5、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: (IEC68-2-14) 試驗N:溫度變化

6、GJB1503A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗方法

7、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗方法

注: 

1、另可供客戶(hù)尺寸大小非標訂制;

2、溫度范圍及升降溫恢復時(shí)間可安客戶(hù)要求非標訂制;

3、溫度分布均勻測試方法，依照內箱離各邊1/10距離有效空間量測。